准确的足部数据是设计鞋类产品的基础,扩展足部数据的测量范畴、提高测量精度是近年来制鞋领域的主要研究方向之一。本文基于1999年~2018年间的专利数据,从国内外专利申请量、国内外地域分布、重要申请人等方面分析了足部测量技术领域的专利情况,为我国足部测量技术的研究提供了参考。
关键词:足部测量;专利布局;专利分析
1足部测量技术的应用
1)用于鞋楦设计。鞋楦的设计以足部为基础,足部形状与尺寸的准确测量是鞋楦设计与制造的前提。足部数据的测量主要包括足部长度、跖围、跗围以及宽度。在足部数据测量完成之后,可采用手工制楦、靠模加工或数字化制楦的方法完成鞋楦的加工。2)用于个性化定制。每个人的脚围度、关节位、长度、宽度都不一样,批量化生产的鞋类产品无法满足个体的个性化需求,随着人们对鞋子的舒适性、个性化需求日益提升,越来越多的人开始选择对自己的足部数据进行测量,以完成鞋子的个性化定制[1]。3)用于健康检查。足部是人体重要的负重器官和运动器官,其形状、尺寸变化以及足底各部分的压力变化在一定程度上反映出人体的生理特征和健康状况。现有技术中,出于健康检查目的的足部数据测量,主要测量指标为足底压力和步态参数。
2足部测量装置
1)机械式。机械式足部数据测量装置原理简单,利用尺、规等对人体足部进行测量,具有操作简便、成本低的特点,现有技术中的机械式足部测量装置有鞋垫状、鞋状、卡尺状、袜状等。2)压模式。压模式的足部数据测量装置最为直观,其利用压模原理,一次性获取足部的形状和尺寸,具有测量效率高、精度高的特点,现有技术中的压模式足部测量装置有足底压模、全足压模等形式。3)探测式。探测式的足部数据测量装置利用位置探测原理,通过测量足部表面各特征标记点之间的相对位置,间接获得足部的形状和尺寸,是一种非接触的测量方式。4)成像式。成像式的足部数据测量装置利用成像和标定原理获得足部的形状和尺寸信息,包括热成像、压力成像以及图像摄录。成像式测量装置由于利用移动终端便捷的图片、视频摄录功能以及互联网的数据传输功能,具有应用广泛、测量效率高、成本低的特点[2-3]。
3国内外专利分析
3.1专利申请量趋势
本文检索并统计了全球1999年~2018年间与足部数据测量技术相关的发明专利申请。国内申请量在1999年~2008年间一直处于较低水平,反映出我国当时的生活水平有限,人们很少关注足部数据,对于该领域的兴趣和研究力度还不够高;自2009年开始,我国足部测量技术领域的专利申请数量逐步上升,反映出我国对于足部数据的关注度有所增加,并且针对足部数据的测量技术在多年的积累下也有了一定程度的提高。从全球的申请量数据来看,2009年之前该领域的专利申请量增长趋势并不明显,而在2009年之后,随着我国在该技术领域的申请量逐年增加,全球申请量呈现出与我国相同的发展趋势,可见我国在该领域的影响力逐步增加。
3.2专利分布概况
中国和美国是该技术领域在全球的两大申请目标国,向中美两国提交的申请量占据了全球总量的49%,而向日本、欧洲提交的申请总量也达到全球的31%。事实上,中国是世界上最大的鞋类产品生产国,而美国拥有多家知名的鞋类品牌和跨国公司,足部数据测量技术领域的申请目标国数据如实的反映出了鞋类产品设计与制造领域的国际局面。该技术领域向中国提交专利申请的申请人,绝大多数为国内申请人,占到了申请量的89%;然而在该技术领域的全球10大申请人当中,国内申请人只有3个,NIKE公司在该领域的全球申请量占有绝对的优势[4]。我国虽然是鞋类产品制造大国,但是严重缺乏在全球的专利布局思维,绝大多数专利申请仅停留在国内申请的阶段;而美国的重要申请人多为国际品牌和跨国公司,其在全球范围内有良好的专利战略布局。究其原因,一方面在于我国专利制度起步较晚,且国内申请人多为中小型企业,其在全球层面的专利布局意识较弱;另一方面,该领域技术难度相对不高,国内申请人就目前的技术方案向国外提出申请,性价比较低。
4结语
足部数据测量技术领域的专利分析表明,国外申请人在该领域的研究早于国内申请人,而如今国内申请人在该领域的申请量具有绝对的优势。国内申请人应该积极借鉴国外专利中先进的技术,作为其在该领域发展的基础;同时,应利用国内巨大的申请量基础,推动量变到质变的转化,对于具有创新高度的发明创造,国内申请人应积极向其他国家提交申请,争取我国在该领域的知识产权和经济利益。
参考文献:
[1]王修行,赖军,秦蕾,等.三维脚型测量技术及方法的研究[J].中国个体防护装备,2008(5):7-10.
[2]彭聪,贠超,洪在地.三维激光扫描系统及其在足底扫描中的应用[J].计算机测量与控制,2007(12):1791-1793.
[3]居琰,汪同庆,王贵新,等.脚型三维轮廓测量技术研究及系统实现[J].光电工程,2002(6):21-24+27.
[4]屠岭.便携式快速脚型测量仪的设计与实现[J].中国皮革,2015,44(14):57-59
作者:周建成 单位:国家知识产权局专利局专利审查协作天津中心
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